Consumer Reports kumosi Chipgaten, yksi arvostetuimmista riippumattomista amerikkalaisista organisaatioista, joka testaa erilaisia Yhdysvaltain markkinoille tuotuja elektroniikkatuotteita ja tekee ostosuosituksia kuluttajille shekkien perusteella.
Näinä viikkoina chipgate oli koko maailman huomion kohteena, koska niin sanottiin toistuvasti iPhone 6S- ja iPhone 6S Plus -päätteillä, joissa on Samsung ja TSMC-siru, on erilainen autonomia, korealaiset tekevät huonoja kasvoja, taiwanilaiset parhaita.
Apple ilmoitti, että ero TSMC-sirun iPhnoe 6S:n ja Samsungin välillä on vain 2–3 prosenttia., ja Consumer Reportsin edustajat halusivat selvittää, kuinka paljon totuutta huhuissa ja Applen virallisissa tiedoissa on, he testasivat iPhone 6S si 6S iPhone Plus omassa laboratoriossa.
Consumer Reportsin käyttäjät yrittivät testata päätteitä todellisissa käyttöolosuhteissa, lähettäen +10 dBm:n signaalia taajuudella 5, samalla tekemällä Internet-selaustestejä Wi-Fi:n kautta, molemmilla päätelaitteilla oli samat asetukset.
Älypuhelimet ovat yhtä monimutkaisia kuin niitä käyttävät ihmiset, joten on mahdotonta sanoa varmasti, että tässä chipgate-testissä mittaamamme akun ja lämpötilan suorituskyvyn erot ovat yhdenmukaisia kaikissa kuviteltavissa olevissa skenaarioissa. Mutta jos iPhone 6s -käyttäjät ovat koskaan pettyneitä puhelimiinsa, olemme varmoja, että se ei johdu siitä, että he ostivat mallin "väärällä" sirulla.
Näiden testien perusteella Consumer Reportsin käyttäjät havaitsivat sen erot iPhone 6S:n ja iPhone 6S Plus:n TSMC- ja Samsung-sirujen autonomiassa ovat noin 1 %, eli vähemmän kuin mitä Apple-yhtiö ilmoitti viime viikolla.
Consumer Reports vahvistaa nyt kaiken, mitä yritys sanoi omena toistuvasti ja tämän odotettiin näkevän, mutta todellisessa elämässä saat varmasti erilaisia tuloksia verrattuna siihen, mitä näemme Internetissä eri artikkeleissa.
Tosiasia on, että akun autonomia vaihtelee riippuen siitä, miten kukin henkilö käyttää päätettä, joten ero voi olla 1 % tai 50 % riippuen tehtävistäsi, joita teet laitteillasi.
