Koska syksyä tulvivat uutiset Galaxy Note 7 -päätteiden räjähtämisestä Samsungin käyttämien akkujen takia, jotkut tutkijat ajattelivat hieman analysoida ongelmaa. Ei Galaxy Note 7:n, mutta akkujen ongelma, jotka turpoavat ja räjähtävät riittävän rasituksen jälkeen, kohdistuvat niihin latauksen aikana.
Tutkijat ottivat useita paristoja ja skannasivat ne röntgensäteillä ennen kuin suorittivat ne testeissä, joiden tarkoituksena oli työntää akut valmistajan ennusteisiin kestävyysrajoihin. Jokaisen testisarjan jälkeen tutkijat skannasivat akut joka kerta nähdäkseen kuinka niiden sisällä olevat kerrokset muuttuvat, ja alla oleva kuva näyttää meille kaiken mahdollisimman hyvin.
Ensimmäisessä kuvassa näkyy akku ennen testien aloittamista, toisessa akku muutaman testin jälkeen ja viimeisessä kuvassa näkyy turvonnut akku, ennen kuin se räjähtää. Ensimmäisestä viimeiseen kuvaan akun sisällä on monia eroja monimutkaisten testien jälkeen.
Akkujen pitkän testauksen jälkeen sen sisälle muodostui useita "ilmarakoja" akun kerrosten väliin, mikä viittaa siihen, että se aikoo räjähtää. Periaatteessa ylikuumenemisen seurauksena akun sisällä oleva neste muuttuu kaasuksi ja siten se turpoaa ja sytyttää liekkejä tuhoten liittimen, mutta ehkä jopa enemmän.
Tarkemmat tiedot löydät osoitteesta Tämä työ tutkijoiden julkaisema.
